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[BGA雙頭探針]雙頭探針 038-BB-5.7L

產(chǎn)品型號：038-BB-5.7L
產(chǎn)品頭型：探針外徑為0.38mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為尖頭
所屬分類：雙頭探針
產(chǎn)品優(yōu)勢：產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業(yè)：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
產(chǎn)品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質(zhì)，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-29 http://www.sr-wines.com/Products/shuangtoutanzhen038-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針038-JB-5.7L

產(chǎn)品型號：038-JB-5.7L
產(chǎn)品頭型：探針外徑為0.38mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭及尖頭
所屬分類：雙頭探針
產(chǎn)品優(yōu)勢：產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業(yè)：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
產(chǎn)品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質(zhì)，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-29 http://www.sr-wines.com/Products/shuangtoutanzhen038-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針031-BF-5.7L

產(chǎn)品型號：031-BF-5.7L
所屬分類：雙頭探針
產(chǎn)品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為 尖頭、爪頭
產(chǎn)品優(yōu)勢：產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業(yè)：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
產(chǎn)品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質(zhì)，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-28 http://www.sr-wines.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針031-BU-5.7L

產(chǎn)品型號：031-BU-5.7L
產(chǎn)品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為 尖頭、爪頭
所屬分類：雙頭探針
產(chǎn)品優(yōu)勢：產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業(yè)：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
產(chǎn)品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質(zhì)，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-28 http://www.sr-wines.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針031-JJ-5.7L

產(chǎn)品型號：031-JJ-5.7L
產(chǎn)品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為圓頭
所屬分類：雙頭探針
產(chǎn)品優(yōu)勢：產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業(yè)：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
產(chǎn)品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質(zhì)，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-28 http://www.sr-wines.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html